问：什么是PIV系统
- 答：PIV系统：名为粒子图像测速法，由七十年代末发展起来的一种瞬态、多点、无接触式的流体力学测量方法。
特点：超出了皮早单点测速技术的局限性，能在同一瞬态记录下大量指模空间点上唯握缓的速度分布信息，并提供丰富的流场空间结构以及流动特性。
技术原理：通过测量粒子在已知很短时间间隔内的位移来间接地测量流场的瞬态速度分布。若粒子有足够高的流动跟随性，粒子的运动就能够真实地反映流场的运动状态。
问：PLTV和TOVD的区别
- 答：是粒子图像测速法，而TOVD不是。
TOVD更加精确的尺寸测量精度(一般为±1mm，当监测状态为±0.3mm)，且检测时与缺陷的角度几乎无关。尺寸测量是基于衍答蚂射信号的传播时间而不依赖于波幅。超声波衍射时差法，是一种依靠从待检试件内部结构（主要是指缺陷）的“端角”和“端点”处得到的衍射能量来检测缺陷的方法，用于缺陷的检测、定量和定位。
不使用简单的波幅阈值作为报告缺陷与否的标准。由于衍射信号的波幅并不依赖于缺陷尺寸，在任何缺陷可能被判不合格之前所有数据必须经过分析，因此培训和经验对于TOFD技术的应用是极为基本的要求。TOVD技术采用一发一收两个宽带窄脉冲探头进行检测，探头相对于焊缝中心线对称布配圆置。发射探头产生非聚焦纵波波束以一定角度入射到被检工件中，其中部分波束沿近表培举塌面传播被接收探头接收，部分波束经底面反射后被探头接收。接收探头通过接收缺陷尖端的衍射信号及其时差来确定缺陷的位置和自身高度。
问：英文缩写 _ PIV _ PIV是什么意思
- 答：英文缩写 PIV
英文全称 Particle Image Velocimetry
中文解释 粒子图像测速技术
缩写分类 化学化工 数学物理
缩写简介 粒子图像测速技术(Particle Image Velocimetry,简称PIV)以其非接触式,全流场,瞬态测量等特点,从八十年代初出现至今,得到了迅速的普及和推广,在实验设备,数据采集方法,技术应用范围等方面都有巨大的进步.典型的PIV系统的设备包括:Nd:YAG激光器作为光源,CCD(Charge-coupled Devices,电荷耦合旁做器件)相机作为粒子图像记录设备,同步器用于控制激光器发射脉冲和CCD拍摄的同步工作.PIV技术的基本原理是:人为地在被测流场中撒播浓度适当的示踪粒子,用双脉冲激光片光照亮被测流场,同时用像机记录粒子两次被照亮时反射光产生的像.同一粒子两次图像之间的距离首世就是在两个激光脉冲时间间隔内该粒子移动的距离,这一距离除以脉冲间隔的时间就得到了该粒子的移动速度在片光平面内的速度分量.当粒子的跟随性(跟随流体一起运动的能力)比较好时,粒子的速度分量就约等于该处流体的运动速度分量.这样就得到者启肢了流场中各个点的流动速度.PIV测量中最经常遇到的两个问题是:粒子分布的均匀性和足够的浓度,以及流场中的反光对于CCD相机的损伤.粒子浓度不足或浓度分布不均匀就会导致流场中某些位置的速度无法测得.CCD的光学敏感元件很容易被强的反光烧坏.这些问题的解决需要在具体实验中逐步摸索.
